Zobrazeno 1 - 10
of 1 920
pro vyhledávání: '"Test arrays"'
Autor:
Tomasz Brozek, Dennis Ciplickas
Publikováno v:
IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 7, Pp 1248-1257 (2019)
Emerging non-volatile memories are becoming increasingly attractive for embedded and storage-class applications. Among the development challenges of Back-End integrated memory cells are long learning cycles and high wafer cost. We propose a short-flo
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/ceb13829926e40c885a463aa3f26b928
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gijsbers, Antoinet C. J.1, Lew, Janet Y. K.1, Bosch, Cathy A. J.1, Schuurs-Hoeijmakers, Janneke H. M.1, van Haeringen, Arie1, den Hollander, Nicolette S.1, Kant, Sarina G.1, Bijlsma, Emilia K.1, Breuning, Martijn H.1, Bakker, Egbert1, Ruivenkamp, Claudia A. L.1 c.ruivenkamp@lumc.nl
Publikováno v:
European Journal of Human Genetics. Nov2009, Vol. 17 Issue 11, p1394-1402. 9p. 1 Black and White Photograph, 1 Diagram, 1 Chart, 1 Graph.
Autor:
Tomasz Brozek, Dennis Ciplickas
Publikováno v:
2019 Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM).
New non-volatile memory types are becoming increasingly attractive for embedded and storage-class applications. Among the development challenges to insert memory elements between upper interconnect metals are long learning cycles and high wafer cost.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::76aaf6e3eb291c82bc171327c2204d63
https://doi.org/10.1109/edtm.2019.8731138
https://doi.org/10.1109/edtm.2019.8731138
Publikováno v:
2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2018).
The efforts of National Institute of Metrology (NIM) towards large scale Nb/ NbxSi1-x /Nb Josephson junction arrays for the quantum voltage standards are presented in this paper. Physically-linked arrays with 10,000 and 20,000 junctions (correspondin
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::747c8eb265c0ce027902b8664941d099
https://doi.org/10.1109/cpem.2018.8543119
https://doi.org/10.1109/cpem.2018.8543119
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.