Zobrazeno 1 - 10
of 51
pro vyhledávání: '"Tejnil, E."'
Publikováno v:
Gullikson, E.M.; Tejnil, E.; Tsai, K.-Y.; Stivers, A.R.; & Kusunose, H.(2005). Modeling the defect inspection sensitivity of a confocal microscope. Lawrence Berkeley National Laboratory. Lawrence Berkeley National Laboratory: Lawrence Berkeley National Laboratory. Retrieved from: http://www.escholarship.org/uc/item/5kh228gd
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______325::cd469f36e019e8b0736dd4cf4e30dddc
http://www.escholarship.org/uc/item/5kh228gd
http://www.escholarship.org/uc/item/5kh228gd
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2005, Issue 1, p1223-1229, 7p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Goldberg, K. A., Beguiristain, R., Bokor, J., Medecki, H., Attwood, D. T., Jackson, K., Tejnil, E., Sommargren, G. E.
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1995, Vol. 13 Issue 6, p2923-2927, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Optics Letters; October 1996, Vol. 21 Issue: 19 p1526-1528, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.