Zobrazeno 1 - 10
of 37
pro vyhledávání: '"Teixeira, I C"'
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
Marcelino B Santos
Marcelino B Santos
Autor:
Stefaan Tavernier, Peter Bruyndonckx, Abreu, M. C., Aguiar, D., Albuquerque, E., Almeida, F. G., Pedro Almeida, Amaral, P., Etiennette Auffray, Bento, P., Bugalho, R., Carriço, B., Cordiero, H., Ferreira, M., Ferreira, N. C., Gonçalves, F. G., Lecoq, P., Leong, C., Lopes, F., Lousa, P., Luyten, J., Martins, M. V., Matela, N., Mendes, P. R., Moura, R., Nobre, J., Oliveira, N., Ortigao, C., Peralta, L., Rego, J., Ribeiro, R., Rodrigues, P. R., Santos, A. I., Silva, M. M., Teixaira, J. P., Teixeira, I. C., Trindade, A., Trummer, J., Joao Varela
Publikováno v:
CIÊNCIAVITAE
Vrije Universiteit Brussel
Vrije Universiteit Brussel
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::67a52ad60175730664b30d3dd33778c7
https://hdl.handle.net/20.500.14017/8003f5b2-ceb6-4aee-9dfe-a59ac1f8fd8f
https://hdl.handle.net/20.500.14017/8003f5b2-ceb6-4aee-9dfe-a59ac1f8fd8f
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
Autor:
Semiao, J., Saraiva, D., Leong, C., Romao, A., Santos, M. B., Teixeira, I. C., Teixeira, J. P.
Publikováno v:
2014 IEEE International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI & Nanotechnology Systems (DFT); 2014, p110-115, 6p
Publikováno v:
Design of Circuits & Integrated Systems; 2014, p1-6, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.