Zobrazeno 1 - 10
of 54
pro vyhledávání: '"Teerlinck, I."'
Autor:
Meuris, M. *, Delabie, A., Van Elshocht, S., Kubicek, S., Verheyen, P., De Jaeger, B., Van Steenbergen, J., Winderickx, G., Van Moorhem, E., Puurunen, R.L., Brijs, B., Caymax, M., Conard, T., Richard, O., Vandervorst, W., Zhao, C., De Gendt, S., Schram, T., Chiarella, T., Onsia, B., Teerlinck, I., Houssa, M., Mertens, P.W., Raskin, G., Mijlemans, P., Biesemans, S., Heyns, M.M.
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 2005 8(1):203-207
Autor:
Mertens, P.W., Bearda, T., Houssa, M., Loewenstein, L.M., Cornelissen, I., De Gendt, S., Kenis, K., Teerlinck, I., Vos, R., Meuris, M., Heyns, M.M.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 1999 48(1):199-206
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Heyns, M.M., Bearda, T., Cornelissen, I., de Gendt, S., Loewenstein, L., Mertens, P.W., Mertens, S., Meuris, M., Schaekers, M., Teerlinck, I., Vos, R., Wolke, K.
Publikováno v:
Proceedings of the 6th international symposium of Electromechanical Society, 3-16
STARTPAGE=3;ENDPAGE=16;TITLE=Proceedings of the 6th international symposium of Electromechanical Society
STARTPAGE=3;ENDPAGE=16;TITLE=Proceedings of the 6th international symposium of Electromechanical Society
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=narcis______::5c6ccc539f9f2e40c624955a1fdc857d
https://research.utwente.nl/en/publications/advanced-cleaning-strategies-for-ultraclean-silicon-surfaces(e51fcda5-dad4-4b87-85ac-dfb35e43ee2f).html
https://research.utwente.nl/en/publications/advanced-cleaning-strategies-for-ultraclean-silicon-surfaces(e51fcda5-dad4-4b87-85ac-dfb35e43ee2f).html
Autor:
Van Elshocht, S., Brijs, B., Caymax, M., Conard, T., De Gendt, S., Kubicek, S., Meuris, M., Onsia, B., Richard, O., Teerlinck, I., Van Steenbergen, J., Zhao, C., Heyns, M.
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2004, Vol. 811 Issue 1, p283-288, 6p
Autor:
De Jaeger, B., Houssa, M., Satta, A., Kubicek, S., Verheyen, P., Van Steenbergen, J., Croon, J., Kaczer, B., Van Elshocht, S., Delabie, A., Kunnen, E., Sleeckx, E., Teerlinck, I., Lindsay, R., Schram, T., Chiarella, T., Degraeve, R., Conard, T., Poortmans, J., Winderickx, G.
Publikováno v:
Proceedings of the 30th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.04EX850); 2004, p189-192, 4p
Autor:
Fyen, W., Vos, R., Teerlinck, I., Lagrange, S., Lauerhaas, J., Meuris, M., Mertens, P., Heyns, M.
Publikováno v:
Proceedings of ISSM2000. Ninth International Symposium on Semiconductor Manufacturing (IEEE Cat. No.00CH37130); 2000, p415-418, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Meuris, M., Arnauts, S., Cornelissen, I., Kenis, K., Lux, M., Degendt, S., Mertens, P., Teerlinck, I., Vos, R., Loewenstein, L., Heyns, M.M., Wolke, K.
Publikováno v:
1999 IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing Conference Proceedings (Cat No99CH36314); 1999, p157-160, 4p