Zobrazeno 1 - 10
of 151
pro vyhledávání: '"Tasker, Paul J"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Chandrasekar, Hareesh, Uren, Michael J., Casbon, Michael A., Hirshy, Hassan, Eblabla, Abdalla, Elgaid, Khaled, Pomeroy, James W., Tasker, Paul J., Kuball, Martin
Publikováno v:
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, VOL. 66, NO. 4, APRIL 2019
Intrinsic limits to temperature-dependent substrate loss for GaN-on-Si technology, due to the change in resistivity of the substrate with temperature, are evaluated using an experimentally validated device simulation framework. Effect of room tempera
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1901.09521
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Brazzini, Tommaso, Casbon, Michael A., Sun, Huarui, Uren, Michael J., Lees, Jonathan, Tasker, Paul J., Jung, Helmut, Blanck, Hervé, Kuball, Martin
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2015 55(12) Part A:2493-2498
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2012 52(12):2880-2883
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.