Zobrazeno 1 - 10
of 15
pro vyhledávání: '"Tartachnik, V.P."'
The GaP diode radiation-induced degradation has been established to be caused mainlу bу the reduction of the current carrier lifetime resulting from introduction of non-radiative deep levels of the radiation-induced defects. A thin structure has be
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1456::4a44a8e8b0899d7bafff5fcaedaf1653
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/138859
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/138859
Autor:
Gradoboev, A. V.1,2 (AUTHOR) gava@tpu.ru, Orlova, K. N.3 (AUTHOR) KNOrlova@mephi.ru, Simonova, A. V.4 (AUTHOR), Sednev, V. V.2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Instruments & Experimental Techniques. Sep2021, Vol. 64 Issue 5, p720-728. 9p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.