Zobrazeno 1 - 10
of 220
pro vyhledávání: '"Tan, Y.M."'
Autor:
Chong, F.D., Tan, C.Y., Singh, R., Muchtar, A., Somalu, M.R., Ng, C.K., Yap, B.K., Teh, Y.C., Tan, Y.M.
Publikováno v:
In Materials Characterization October 2016 120:331-336
Publikováno v:
In Materials Research Bulletin September 2015 69:142-146
Autor:
Goldsmith, M.-R., Grulke, C.M., Brooks, R.D., Transue, T.R., Tan, Y.M., Frame, A., Egeghy, P.P., Edwards, R., Chang, D.T., Tornero-Velez, R., Isaacs, K., Wang, A., Johnson, J., Holm, K., Reich, M., Mitchell, J., Vallero, D.A., Phillips, L., Phillips, M., Wambaugh, J.F., Judson, R.S., Buckley, T.J., Dary, C.C.
Publikováno v:
In Food and Chemical Toxicology March 2014 65:269-279
Publikováno v:
In Journal of the European Ceramic Society 2010 30(10):1973-1987
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In European Journal of Surgical Oncology 2006 32(5):553-556
Publikováno v:
In European Journal of Surgical Oncology 2006 32(5):564-567
Autor:
Goh, B.K.P. *, Tan, Y.M., Cheow, P.C., Chung, Y.F.A., Chow, P.K.H., Wong, W.K., Ooi, L.L.P.J.
Publikováno v:
In European Journal of Surgical Oncology 2005 31(3):282-287
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2004 44(5):755-769