Zobrazeno 1 - 10
of 14
pro vyhledávání: '"Talluto, Salvatore"'
Autor:
Talluto, Salvatore
Publikováno v:
Literature (2410-9789); Sep2022, Vol. 2 Issue 3, p124-139, 16p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Government Information Quarterly 2003 20(2):121-133
Autor:
Talluto, Salvatore
Even before the likes of Max Weber and Frederic Jameson pushed forward the idea of disenchantment, feelings of dissatisfaction and meaninglessness caused by the technological and economic developments of what they called our modern and postmodern age
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b02dab635d1572479971d10aa8953977
Autor:
Bahl, Swapnil, Rungta, Shreyans, Khullar, Shray, Kapur, Rohit, Chandra, Anshuman, Talluto, Salvatore, Notiyath, Pramod, Rajagopalan, Ajay
Publikováno v:
2014 IEEE International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI & Nanotechnology Systems (DFT); 2014, p191-196, 6p
Autor:
Bahl, Swapnil, Mattiuzzo, R., Khullar, Shray, Garg, Akhil, Graniello, S., Abdel-Hafez, Khader S., Talluto, Salvatore
Publikováno v:
2011 IEEE International Test Conference (ITC); 2011, p1-10, 10p
Autor:
Talluto, Salvatore M
Publikováno v:
English: The Journal of the English Association; Summer2021, Vol. 70 Issue 269, p200-202, 3p
Autor:
Sturtevant, John L., Capodieci, Luigi, Le Denmat, Jean-Christophe, Feldman, Nelly, Riewer, Olivia, Yesilada, Emek, Vallet, Michel, Suzor, Christophe, Talluto, Salvatore
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2015, Vol. 9427 Issue: 1 p942705-942705-11
Publikováno v:
2014 IEEE International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI & Nanotechnology Systems (DFT); 2014, pi-xvi, 16p
Publikováno v:
Proceedings 2003 International Symposium on System-on-Chip (IEEE Cat. No.03EX748); 2003, p169-170, 2p