Zobrazeno 1 - 10
of 621
pro vyhledávání: '"Talin, A. Alec"'
Autor:
Li, Jingxian, Jalbert, Andrew J., Simakas, Leah S., Geisler, Noah J., Watkins, Virgil J., Cline, Laszlo A., Fuller, Elliot J., Talin, A. Alec, Li, Yiyang
CMOS-based microelectronics are limited to ~150{\deg}C and therefore not suitable for the extreme high temperatures in aerospace, energy, and space applications. While wide bandgap semiconductors can provide high-temperature logic, nonvolatile memory
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2410.16067
Autor:
Kim, Diana, Watkins, Virgil, Cline, Laszlo, Li, Jingxian, Sun, Kai, Sugar, Joshua D., Fuller, Elliot J., Talin, A. Alec, Li, Yiyang
Publikováno v:
Advanced Electronic Materials, 2022
Electrochemical random-access memory (ECRAM) is a recently developed and highly promising analog resistive memory element for in-memory computing. One longstanding challenge of ECRAM is attaining retention time beyond a few hours. This short retentio
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2210.06658
Autor:
Robinson, Donald A., Foster, Michael E., Bennett, Christopher H., Bhandarkar, Austin, Webster, Elizabeth R., Celebi, Aleyna, Celebi, Nisa, Fuller, Elliot J., Stavila, Vitalie, Spataru, Catalin D., Ashby, David S., Marinella, Matthew J., Krishnakumar, Raga, Allendorf, Mark D., Talin, A. Alec
Emerging concepts for neuromorphic computing, bioelectronics, and brain-computer interfacing inspire new research avenues aimed at understanding the relationship between oxidation state and conductivity in unexplored materials. Here, we present ruthe
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2207.07756
Autor:
Horner, Jeffrey S., Whang, Grace, Ashby, David S., Kolesnichenko, Igor V., Lambert, Timothy N., Dunn, Bruce S., Talin, A. Alec, Roberts, Scott A.
Publikováno v:
ACS Appl. Energy Mater. 2021
Galvanostatic Intermittent Titration Technique (GITT) is widely used to evaluate solid-state diffusion coefficients in electrochemical systems. However, the existing analysis methods for GITT data require numerous assumptions, and the derived diffusi
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2107.05835
Autor:
Cardenas, Jorge A., Bullivant, John P., Wygant, Bryan R., Lapp, Aliya S., Bell, Nelson S., Lambert, Timothy N., Merrill, Laura C., Talin, A. Alec, Cook, Adam W., Allcorn, Eric, Harrison, Katharine L.
Publikováno v:
In Additive Manufacturing 25 March 2024 84
Autor:
Gurrola, Rebeca M., Cain, John M., Oh, Sangheon, Brown, Timothy D., Jardali, Fatme, Schoell, Ryan M., Yadav, Digvijay R., Dong, Jiaqi, Smyth, Christopher M., Pharr, Matt, Kumar, Suhas, Xie, Kelvin, Hattar, Khalid, Talin, A. Alec, Lu, Tzu-Ming, Shamberger, Patrick J.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 3/28/2024, Vol. 135 Issue 12, p1-13, 13p
Autor:
Song, Yueming, Bhargava, Bhuvsmita, Stewart, David M., Talin, A. Alec, Rubloff, Gary W., Albertus, Paul
Publikováno v:
In Joule 19 April 2023 7(4):652-674
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.