Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Takahiro Kaneishi"'
Autor:
Shu Ezaki, Ryuichi Yasuda, Takahiro Kaneishi, Kaoru Yamafuji, Hideyuki Akiyama, Tetsuya Matsuno, Kiyoshi Toko
Publikováno v:
Electronics and Communications in Japan (Part II: Electronics). 80:1-8
The technique using the phenomenon called surface plasmon resonance can make it possible to detect the change of refractivity (or dielectric constant) of a solution in a thin local region (the typical thickness of the region is about 1 μm), which is
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::de1f49ccfe776b675d6f1f9744033560
https://doi.org/10.1002/(sici)1520-6432(199704)80:4<1::aid-ecjb1>3.0.co
https://doi.org/10.1002/(sici)1520-6432(199704)80:4<1::aid-ecjb1>3.0.co
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.