Zobrazeno 1 - 10
of 59
pro vyhledávání: '"Tahvili, S."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
A novel methodology to classify test cases using natural language processing and imbalanced learning
Publikováno v:
Engineering Applications of Artificial Intelligence
Detecting the dependency between integration test cases plays a vital role in the area of software test optimization. Classifying test cases into two main classes – dependent and independent – can be employed for several test optimization purpose
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::119d572a02ab30eb97bea131375dc483
https://hdl.handle.net/11250/2727984
https://hdl.handle.net/11250/2727984
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Llorens Revull, Monica, Latkowski, S., Tahvili, S., Williams, K.A., Bente, E.A.J.M., Kockaert, P., Emplit, O., Gorza, S.-P., Massar, S.
Publikováno v:
Proceedings of the 20th Annual Symposium of the IEEE Photonics Benelux Chapter, 26-27 November 2015, Brussels, Belgium, 195-198
STARTPAGE=195;ENDPAGE=198;TITLE=Proceedings of the 20th Annual Symposium of the IEEE Photonics Benelux Chapter, 26-27 November 2015, Brussels, Belgium
STARTPAGE=195;ENDPAGE=198;TITLE=Proceedings of the 20th Annual Symposium of the IEEE Photonics Benelux Chapter, 26-27 November 2015, Brussels, Belgium
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=narcis______::1722bd5b292842adf460f58dbaa8c036
https://research.tue.nl/nl/publications/f32bd7ac-50c5-4db8-a481-4efe959e18e7
https://research.tue.nl/nl/publications/f32bd7ac-50c5-4db8-a481-4efe959e18e7
Autor:
Smit, M., Leijtens, X., Ambrosius, H., Bente, E., Tol, J. van der, Smalbrugge, B., Vries, T. de, Geluk, E.-J., Bolk, J., Veldhoven, R. van, Augustin, L., Thijs, P., D'Agostino, D., Rabbani, H., Lawniczuk, K., Stopinski, S., Tahvili, S., Corradi, A., Kleijn, E., Dzibrou, D., Felicetti, M., Bitincka, E., Moskalenko, V., Zhao, J., Santos, R., Gilardi, G.
Photonic integrated circuits (PICs) are considered as the way to make photonic systems or subsystems cheap and ubiquitous. PICs still are several orders of magnitude more expensive than their microelectronic counterparts, which has restricted their a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::01796b498037d569265da52891805286
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/236429
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/236429
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2010 12th International Conference on Transparent Optical Networks (ICTON); 2010, p1-4, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.