Zobrazeno 1 - 10
of 146
pro vyhledávání: '"Taddiken, A."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability March 2021 118
Autor:
Heinssen, Sascha, Hillebrand, Theodor, Taddiken, Maike, Tscherkaschin, Konstantin, Paul, Steffen, Peters-Drolshagen, Dagmar
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability January 2018 80:184-197
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2016 67:64-73
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Eves, Joseph, Taddiken, Aaron, Jacobs, Tad, Earl, Mike, Morin, Josh, Pipitone, Joseph, Ross, Andy, Guin, Josh, Boyer, Noel
Publikováno v:
Tree Care Industry; Dec2024, Vol. 35 Issue 12, p44-46, 2p
Publikováno v:
Proceedings, Vol 2, Iss 13, p 960 (2018)
This paper presents a new way of dealing with drinkable water shortness all over the world. The developed devices’ functionality is based on the well-known and established SODIS (SOlar DISinfection) method. The whole device, Scipio—Scientific Pur
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/e9de75bc8d7d4afc99c5f42ee218c38f
Publikováno v:
Proceedings, Vol 2, Iss 13, p 963 (2018)
Numerous non-ideal effects can distort the functionality of sensor interfaces and have to be considered during the design phase. In order to relax the requirements for the analog circuit components, adaptive filtering and digital calibration are used
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/f6f614198f1f492e851d6c40be413303
Autor:
Konstantin Tscherkaschin, Theodor Hillebrand, Maike Taddiken, Steffen Paul, Dagmar Peters-Drolshagen, Sascha Heinssen
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 80:184-197
Numerous applications require the use of robust and reliable integrated circuits. In order to develop such circuits, a wide variety of influences need to be considered and also compensated if necessary. For a complete consideration of all reliability
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::09798868a63254cb14b756727d659a27
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.11.029
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.11.029
Publikováno v:
In Aerospace Science and Technology 2005 9(6):553-560