Zobrazeno 1 - 10
of 76
pro vyhledávání: '"Tacano, Munecazu"'
Autor:
Tanuma, Nobuhisa, Tacano, Munecazu, Pavelka, Jan, Hashiguchi, Sumihisa, Sikula, Josef, Matsui, Toshiaki
Publikováno v:
In Solid State Electronics June 2005 49(6):865-870
Autor:
Pavelka, Jan, Sikula, Josef, Vasina, Petr, Sedlakova, Vlasta, Tacano, Munecazu, Hashiguchi, Sumihisa
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2002 42(6):841-847
Publikováno v:
Radioengineering, Vol 20, Iss 1, Pp 194-199 (2011)
Radioengineering. 2011, vol. 20, č. 1, s. 194-199. ISSN 1210-2512
Radioengineering. 2011, vol. 20, č. 1, s. 194-199. ISSN 1210-2512
Low frequency noise was measured in silicon MOSFET and GaN and InGaAs based HFET devices with special emphasis on the RTS noise. The RTS (Random Telegraph Signal) dependence on the biasing conditions and temperature was analyzed in order to obtain ne
Autor:
Tacano, Munecazu, Chen, Wen S.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Aug1974, Vol. 45 Issue 8, p3407-3420, 14p
Autor:
Tacano, Munecazu, Kataoka, Shoei
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Sep1971, Vol. 42 Issue 10, p4006-4014, 9p
Autor:
Tacano, Munecazu, Kanayama, Toshihiko, Hiroshima, Hiroshi, Komuro, Masanori, Sugiyama, Yoshinobu
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 11/15/1987, Vol. 62 Issue 10, p4301, 3p
Publikováno v:
2015 10th International Conference on Availability, Reliability & Security; 2015, p1-4, 4p
Publikováno v:
2015 10th International Conference on Availability, Reliability & Security; 2015, p1-4, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.