Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"TOHJOU, F."'
Autor:
Homma, Y., Tohjou, F., Masamoto, A., Shibata, M., Shichi, H., Yoshioka, Y., Adachi, T., Akai, T., Gao, Y., Hirano, M., Hirano, T., Ihara, A., Kamejima, T., Koyama, H., Maier, M., Matsumoto, S., Matsunaga, H., Nakamura, T., Obata, T., Okuno, K., Sadayama, S., Sasa, K., Sasakawa, K., Shimanuki, Y., Suzuki, S., Sykes, D.E., Tachikawa, I., Takase, H., Tanigaki, T., Tomita, M., Tosho, H., Kurosawa, S.
Round-robin studies on relative sensitivity factors (RSFs) in secondary ion mass spectrometry (SIMS) were conducted using bulk GaAs samples uniformly doped with various impurity elements. A total of 31 laboratories participated in two round-robins. M
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::82e22429732ac5c84a3bafc87193de96
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/193344
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/193344
Secondry Ion Mass Spectrometry Round-robin Study of Relative Sensitivity Factors in Gallium Arsenide
Autor:
HOMMA, Y., TOHJOU, F., MASAMOTO, A., SHIBATA, M., SHICHI, H., YOSHIOKA, Y., ADACHI, T., AKAI, T., GAO, Y., HIRANO, M., HIRANO, T., IHARA, A., KAMEJIMA, T., KOYAMA, H., MAIER, M., MATSUMOTO, S., MATSUNAGA, H., NAKAMURA, T., OBATA, T.
Publikováno v:
Surface & Interface Analysis: SIA; Feb1998, Vol. 26 Issue 2, p144, 11p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.