Characterization of Carbon-Contaminated B4C-Coated Optics after Chemically Selective Cleaning with Low-Pressure RF Plasma

Autor: Fernández, H. Moreno, Rogler, D., Sauthier, G., Thomasset, M., Dietsch, R., Carlino, V., Pellegrin, E.

Boron carbide (B4C) is one of the few materials that is expected to be mostly resilient with respect to the extremely high brilliance of the photon beam generated by free electron lasers (FELs) and is thus of considerable interest for optical applica

Externí odkaz: http://arxiv.org/abs/1708.06112

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Cr/B4C multilayer mirrors: Study of interfaces and X-ray reflectance

Autor: Burcklen, C, Soufli, R, Dennetiere, D, Polack, F, Capitanio, B, Gullikson, E, Meltchakov, E, Thomasset, M, Jérome, A, De Rossi, S, Delmotte, F

Publikováno v: Burcklen, C; Soufli, R; Dennetiere, D; Polack, F; Capitanio, B; Gullikson, E; et al.(2016). Cr/B4C multilayer mirrors: Study of interfaces and X-ray reflectance. Journal of Applied Physics, 119(12). doi: 10.1063/1.4944723. Lawrence Berkeley National Laboratory: Retrieved from: http://www.escholarship.org/uc/item/3fd7k25z

© 2016 AIP Publishing LLC. We present an experimental study of the effect of layer interfaces on the x-ray reflectance in Cr/B4C multilayer interference coatings with layer thicknesses ranging from 0.7 nm to 5.4 nm. The multilayers were deposited by

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______325::9916c120e6e5c7321b29f0443c294431
http://www.escholarship.org/uc/item/3fd7k25z

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.