Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"TEM sample holder"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Electronic devices are strongly influenced by their microstructures. In situ transmission electron microscopy (in situ TEM) with capability to measure electrical properties is an effective method to dynamically correlate electric properties with micr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::60525925dd7cac2557cd68692802a9e3
http://hdl.handle.net/2115/59786
http://hdl.handle.net/2115/59786
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.