Zobrazeno 1 - 10
of 105
pro vyhledávání: '"T.J. Lie"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Additive Manufacturing Letters, Vol 6, Iss , Pp 100151- (2023)
Although Cu-Cr-Nb alloys / superalloys bimetallic components for liquid rocket engine applications have been fabricated using additive manufacturing, a detailed understanding of their process-structure relation is currently lacking. To bridge this ga
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/4a979005be694b3ea064637f2f1cf3f7
Autor:
S. Samuha, J. Bickel, T. Mukherjee, T. DebRoy, T.J. Lienert, S.A. Maloy, C.R. Lear, P. Hosemann
Publikováno v:
Materials & Design, Vol 227, Iss , Pp 111804- (2023)
The grade 91 ferritic/martensitic steel is considered a promising structural or cladding material for various nuclear reactor applications. Here, grade 91 was fabricated via the Directed Energy Deposition Laser technique. This alternative manufacturi
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/7b784c72598e414a8ee3836d95fd6976
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science. 40:1941-1946
Presents the results of an investigation of the SMU (single-word multiple-bit upset) vulnerability of a number of high density SRAM (static random-access memory) device types. The primary objectives of this study were to examine the extent of SMUs in
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
D.L. Leung, T.J. Lie, T.K. Tsubota, R. Koga, K.B. Crawford, S.D. Pinkerton, P.B. Grant, D.C. Mayer, W.A. Kolasinski
Publikováno v:
RADECS 93. Second European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (Cat. No.93TH0616-3).
The occurrence of single ion induced multiple-bit upset in IDT71256 256K SRAMs was investigated using high energy heavy ions, with special attention to upsets affecting bits within the same logical memory word. >