Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"T.G. Foote"'
Autor:
Mary P. Kusko, T.G. Foote, Bryan J. Robbins, William V. Huott, Timothy J. Koprowski, D.E. Hoffman
Publikováno v:
IEEE Design & Test of Computers. 15:83-89
The design-for-test framework of the 500-MHz CMOS central processor uses specific tests to ensure the highest reliability of components within a system. Some of the same test patterns are applied in chip manufacturing and system-level tests.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0d22e225dc7da4201e6d70f14b23b05d
https://doi.org/10.1109/54.706038
https://doi.org/10.1109/54.706038
Publikováno v:
ITC
This paper describes the test tool methodology used for the IBM S/390 microprocessor. An efficient, effective, and automated process providing correct-by-construction test pattern generation, an effective test pattern set, and diagnostics were requir
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f748827698b543611d0eec167cd379da
https://doi.org/10.1109/test.1998.743216
https://doi.org/10.1109/test.1998.743216
Autor:
T.G. Foote, William V. Huott, Bryan J. Robbins, Mary P. Kusko, Timothy J. Koprowski, D.E. Hoffman
Publikováno v:
ITC
This paper describes the design-for-test framework of the 400 MHz CMOS central processor (CP) used in the fourth generation (G4) of the IBM S/390(R) line of servers. It will describe details of modeling logic to achieve correct and effective tests as
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d5082babc289769754bdf011f92aa97f
https://doi.org/10.1109/test.1997.639601
https://doi.org/10.1109/test.1997.639601
Autor:
C. Hirko, R. Yaari, Ulrich Baur, D. W. Wittig, J. A. Kyle, Orazio P. Forlenza, Donato O. Forlenza, Mary P. Kusko, Bryan J. Robbins, Gerard M. Salem, Franco Motika, S. Michnowski, T.G. Foote, Ronald J. Frishmuth
Publikováno v:
IBM Journal of Research and Development. 53:5:1-5:11
For the first time in the history of the IBM System z™ family of mainframes, System z10™ processor chips are tested by both structural and functional means. This complementary strategy starts at wafer test and is consistent through system test. I
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::44b3f6146dbb85fd9c1f8c9288b41828
https://doi.org/10.1147/jrd.2009.5388583
https://doi.org/10.1147/jrd.2009.5388583
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.