Zobrazeno 1 - 10
of 12
pro vyhledávání: '"T. Rubalcava"'
Publikováno v:
JMIR Formative Research, Vol 5, Iss 11, p e25749 (2021)
BackgroundGroup-based formats typically used in low-resource substance use disorder (SUD) treatment settings result in little individual attention to help reinforce and guide skill use, which may contribute to poor posttreatment outcomes. Smartphone
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/9e287e8ecee4476c95258ee25ea2ef6e
BACKGROUND Group-based formats typically used in low-resource substance use disorder (SUD) treatment settings result in little individual attention to help reinforce and guide skill use, which may contribute to poor posttreatment outcomes. Smartphone
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2e0a708f9d69bfb53521ba17f29775c4
https://doi.org/10.2196/preprints.25749
https://doi.org/10.2196/preprints.25749
Publikováno v:
IEEE 1992 Microwave and Millimeter-Wave Monolithic Circuits Symposium Digest of Papers.
The authors summarize very-high-temperature life-test results on monolithic microwave integrated circuit (MMIC) switches and attenuators designed, assembled, and screened by Motorola GEG and manufactured and tested by TriQuint. It was found that indi
Publikováno v:
1998 GaAs Reliability Workshop. Proceedings (Cat. No.98EX219).
The intent of this work is to provide information on the methodology, implementation, and results of reliability assessments enacted as part of new facility qualification. Three major processes were qualified using millions of element and thousands o
Publikováno v:
Proceedings of 1994 IEEE International Reliability Physics Symposium RELPHY-94.
In a cooperative Supplier/Customer program, qualification testing was completed on GaAs Technology Characterization Vehicles (TCVs), Standard Evaluation Circuits (SECs) and MMICs for application in space. Degradation was measured in multiple 4,000 ho
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
30th International Reliability Physics Symposium.
The main purpose of this study was to monitor the effects of sidegating over time. Both enhancement mode and depletion mode MESFETs, with and without isolation implants, were tested at elevated temperatures. The sidegate effect is caused when carrier
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.