Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"T. Remmell"'
Autor:
M. Raymond, T. Remmell, E. D. Luckowski, S. Braithwaite, D. Roberts, J. Walls, D. Qualls, Melvy F. Miller, M. Martin, Rampi Ramprasad
Publikováno v:
2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings.
TDDB testing of MIM capacitors with various thickness plasma silicon nitride dielectric yielded high quality lifetime data, with very large Weibull betas and consistency between wafer-scale and package level tests. An excellent fit of the data to the
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::853b75e66fd3293dd3446d4a23d29a13
https://doi.org/10.1109/relphy.2004.1315395
https://doi.org/10.1109/relphy.2004.1315395
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.