Zobrazeno 1 - 10
of 54
pro vyhledávání: '"T. Neyer"'
Publikováno v:
Electron Microscopy and Analysis 1997 ISBN: 9781003063056
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5102121bb985a947a9d6dabd23fceec0
https://doi.org/10.1201/9781003063056-88
https://doi.org/10.1201/9781003063056-88
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 62:74-78
Over the past years there have been growing concerns on the adverse effects of atmospheric neutrons on power semiconductors even at sea level. In this paper we report recent results of neutron irradiation (1.9 MeV) experiments conducted on 650 V Supe
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d779440284c3aeab2467896dd9353677
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2016.03.027
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2016.03.027
Publikováno v:
Journal of Statistical Planning and Inference. 149:20-25
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bb11d91b25bbaed841043c9cfe4694e4
https://doi.org/10.1016/j.jspi.2013.12.010
https://doi.org/10.1016/j.jspi.2013.12.010
Publikováno v:
Journal of Microscopy. 187:184-192
This work uses electron energy loss spectroscopy (EELS) to study the excitation of interface and bulk plasmons in artificial, nonmagnetic metallic multilayers. We obtain EELS spectra for W/Si and Ta/Si multilayers with layer periodicity d using an of
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4f8f56a751e4ec52294cbdcc1f0b0929
https://doi.org/10.1046/j.1365-2818.1997.2230785.x
https://doi.org/10.1046/j.1365-2818.1997.2230785.x
Publikováno v:
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 76:683-688
In layered structures, theory predicts a quasi-continuum of interface plasmon modes. In W /Si multilayers, the plasma frequencies of the constituents are 25 eV and 17 eV, and the energies of the interface modes are ideally suited for detection with e
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5e23cbec8e16b76f9d9a7645c83890df
https://doi.org/10.1016/0368-2048(95)02416-6
https://doi.org/10.1016/0368-2048(95)02416-6
Autor:
Barry T. Neyer
Publikováno v:
Technometrics. 36:61-70
Sensitivity tests are often used to estimate the parameters associated with latent continuous variables that cannot be measured. For example, each explosive specimen has a threshold. The specimen will detonate if and only if an applied shock exceeds
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c997988fb385add346a42e04926fc2ec
https://doi.org/10.1080/00401706.1994.10485401
https://doi.org/10.1080/00401706.1994.10485401
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2004 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop (IEEE Cat. No.04CH37530).
In this paper we describe a technique called the defect reticle method and illustrate its application to semiconductor manufacture. This technique sheds light on many unknown and so far inaccessible relationships between defect types and yield loss.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bae37ce1a6d98779839b973dffb380cd
https://doi.org/10.1109/asmc.2004.1309546
https://doi.org/10.1109/asmc.2004.1309546
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.