Zobrazeno 1 - 10
of 31
pro vyhledávání: '"T. L. Wee"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
H. Tan, S. L. Ting, Y. Z. Zhao, P. K. Tan, H. H. W. Thoungh, Y. L. Pan, S. P. Neo, T. L. Wee, C. Q. Chen, R. Fransiscus
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
Reliability tests, such as Time-Dependent Dielectric Breakdown (TDDB), High-Temperature Operating Life (HTOL), Hot Carrier Injection (HCI), etc., is required for the lifetime prediction of an integrated circuit (IC) product. Those reliability tests a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c6026a841db0dbdac0cdfe38aa553e49
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2019p0340
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2019p0340
Autor:
K. Lee, K. Yamane, S. Noh, V. B. Naik, H. Yang, S. H. Jang, J. Kwon, B. Behin-Aein, R. Chao, J. H. Lim, null S. K., K. W. Gan, D. Zeng, N. Thiyagarajah, L. C. Goh, B. Liu, E. H. Toh, B. Jung, T. L. Wee, T. Ling, T. H. Chan, N. L. Chung, J. W. Ting, S. Lakshmipathi, J. S. Son, J. Hwang, L. Zhang, R. Low, R. Krishnan, T. Kitamura, Y. S. You, C. S. Seet, H. Cong, D. Shum, J. Wong, S. T. Woo, J. Lam, E. Quek, A. See, S. Y. Siah
Publikováno v:
2018 IEEE Symposium on VLSI Technology.
We demonstrate a fully functional embedded MRAM (eMRAM) macro integrated into a 22-nm FD-SOI CMOS platform. This macro combined with eFlash-flavor MTJ film stacks shows median-die bit error rate (BER) < 1 ppm after 5× solder reflows. It also meets t
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3028c6d8033fb95b54e47d04e4e0e57b
https://doi.org/10.1109/vlsit.2018.8510655
https://doi.org/10.1109/vlsit.2018.8510655
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Singapore medical journal. 40(9)
To characterise the electroretinographic (ERG) profile in 70 Singaporean emmetropic eyes.Seventy eyes of thirty-five patients with refractive error of -1.00D or less and with a normal ophthalmic examination were chosen. They were subjected to three f
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid________::53ecc2738dc028adfe4db5441e391c08
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/10628245
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/10628245