Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"T. Kriske"'
Autor:
Rich Gregory, M. Zavala, Bich-Yen Nguyen, Victor H. Vartanian, L. Contreras, S. Parsons, J. Hildreth, K. Kim, Aaron Thean, Mariam Sadaka, D. Eades, H. Collard, J. Vella, M. Canonico, N. Ramani, T. Kriske, Qianghua Xie, Xiang-Dong Wang, B. Lu, R. Powers, Linda B. McCormick, David Theodore, Ted R. White, V. Dhandapani, Gregory S. Spencer, M. Kottke, L. Prabhu, J. Jiang, Ran Liu, Stefan Zollner, J. Mogab
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings.
The semiconductor industry has sustained its historical exponential performance gains by aggressively scaling transistor dimensions. However, as devices approach sub‐100 nm dimensions, scaling becomes more challenging and new materials are required
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.