Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"T. Kemerer"'
Autor:
K. Carrig, D. Scagnelli, T. Kemerer, E. Tsai, T. McDevitt, H. Landis, M. Kumar, J.-t. Sucharitaves, P. Pastel, C. Grant
Publikováno v:
2007 Proceedings 57th Electronic Components and Technology Conference.
An overview of important pattern density requirements and tradeoffs for advanced RF, analog and digital technologies is presented. This paper reviews process sensitivities to pattern density, the advantage of pattern density compliant designs, perfor
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e7d993a8db57d0ee6dce79e8f986ab91
https://doi.org/10.1109/ectc.2007.373963
https://doi.org/10.1109/ectc.2007.373963
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.