Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"T. Jahwari"'
Autor:
Joan Ramon Morante, J.M. Lopez-Villegas, M.S. Benrakkad, Josep Samitier, Alejandro Pérez-Rodríguez, T. Jahwari
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
Raman spectroscopy is applied for the analysis of polysilicon films deposited on SiO2 sacrificial layers. Different deposition technologies and processing parameters have been studied. The features of the first order Si Raman signal (shape, width and
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b5317b9efcb31839c11cf699f58725ec
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0028595486&partnerID=MN8TOARS
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0028595486&partnerID=MN8TOARS
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.