Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"T. Delaroque"'
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 51:1693-1696
Scanning Spreading Resistance Microscopy electro-mechanical nanocontacts are nowadays well understood and numerous influent parameters have been identified (bias, load, surface state sample, radius of curvature of the tip). Despite several simulation
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
Direct surface bonding of wafers in 3D integration requires perfectly smooth surfaces, with roughness values below 1 nm, usually characterized with Atomic Force Microscopy. An alternative technique, Digital Holography Microscopy is evaluated here and
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
Scanning Spreading Resistance Microscopy electro-mechanical nanocontacts are nowadays well understood and numerous influent parameters have been identified (Bias, load, surface state of the sample, radius of curvature of the tip). Despite several sim
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.