Zobrazeno 1 - 10
of 16
pro vyhledávání: '"T. Delaroque"'
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 51:1693-1696
Scanning Spreading Resistance Microscopy electro-mechanical nanocontacts are nowadays well understood and numerous influent parameters have been identified (bias, load, surface state sample, radius of curvature of the tip). Despite several simulation
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8e92463e80e11876a8e703ab57f71f90
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2011.07.067
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2011.07.067
Autor:
Xu, Junfei1 (AUTHOR), Zhang, Fenfang1 (AUTHOR), Li, Huanhuan1 (AUTHOR), Li, Pan1 (AUTHOR), Zeng, Junying1 (AUTHOR), Wu, Xianjin1 (AUTHOR), Zhou, Rong1 (AUTHOR), Yang, Chunyan2 (AUTHOR), Zhang, Juzuo1 (AUTHOR) juzuo_zhang@163.com, Balamurugan, Ramatchandirin (AUTHOR) medichembala19@gmail.com
Publikováno v:
Journal of Diabetes Research. 11/13/2024, Vol. 2024, p1-13. 13p.
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
Direct surface bonding of wafers in 3D integration requires perfectly smooth surfaces, with roughness values below 1 nm, usually characterized with Atomic Force Microscopy. An alternative technique, Digital Holography Microscopy is evaluated here and
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::00b4bd3f9e31124bcf664e8fe478bb48
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2013p0162
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2013p0162
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
Scanning Spreading Resistance Microscopy electro-mechanical nanocontacts are nowadays well understood and numerous influent parameters have been identified (Bias, load, surface state of the sample, radius of curvature of the tip). Despite several sim
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::59038719a2c20a8839c0862b7503568a
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2011p0132
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2011p0132
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Coq Germanicus, R., Leclère, Ph., Guhel, Y., Boudart, B., Touboul, A. D., Descamps, P., Hug, E., Eyben, P.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 6/28/2015, Vol. 117 Issue 24, p244306-1-244306-10, 10p, 1 Diagram, 12 Graphs
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ben Salah, Miled, Pasquet, Daniel, Voiron, Frederic, Descamps, Philippe, Lefebvre, Jean-Luc, Lesenechal, Dominique
Publikováno v:
2013 IEEE Topical Conference on Wireless Sensors & Sensor Networks (WiSNet); 2013, p100-102, 3p