Zobrazeno 1 - 10
of 44
pro vyhledávání: '"T. Danz"'
Autor:
T. P. H. Sidiropoulos, N. Di Palo, D. E. Rivas, S. Severino, M. Reduzzi, B. Nandy, B. Bauerhenne, S. Krylow, T. Vasileiadis, T. Danz, P. Elliott, S. Sharma, K. Dewhurst, C. Ropers, Y. Joly, M. E. Garcia, M. Wolf, R. Ernstorfer, J. Biegert
Publikováno v:
Physical Review X, Vol 11, Iss 4, p 041060 (2021)
Detection of the energy conversion pathways between photons, charge carriers, and the lattice is of fundamental importance to understand fundamental physics and to advance materials and devices. Yet, such insight remains incomplete due to experimenta
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/58caef4050cd4aae97af911fd44ab6b0
Autor:
T.P.H. Sidiropoulos, N. Di Palo, D.E. Rivas, S. Severino, M. Reduzzi, B. Nandy, B. Bauerhenne, S. Krylow, T. Vasileiadis, T. Danz, P. Elliott, S. Sharma, K. Dewhurst, C. Ropers, Y. Joly, K. M. E. Garcia, M. Wolf, R. Ernstorfer, J. Biegert
Publikováno v:
High Intensity Lasers and High Field Phenomena 2022
Attosecond core-level soft X-ray spectroscopy is shown to image the energy conversion pathways between photons, charge carriers and lattice in real time in graphite.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::0523c90bca12826c5536bfd75e5aedfc
https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000B-3674-621.11116/0000-000B-3676-4
https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000B-3674-621.11116/0000-000B-3676-4
Autor:
T.P.H. Sidiropoulos, N. Di Palo, D.E. Rivas, S. Severino, M. Reduzzi, B. Nandy, B. Bauerhenne, S. Krylow, T. Vasileiadis, T. Danz, P. Elliott, S. Sharma, K. Dewhurst, C. Ropers, Y. Joly, K. M. E. Garcia, M. Wolf, R. Ernstorfer, J. Biegert
Publikováno v:
CLEO: QELS_Fundamental Science 2022
© 2022 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other uses, in any current or future media, including reprinting/republishing this material for advertising or promotional purposes,creating new c
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::eee3cd72287d119f2f036a597ad60b27
https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000B-366B-121.11116/0000-000B-366D-F
https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000B-366B-121.11116/0000-000B-366D-F
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ivo W. Rangelow, George Kokkoris, B. E. Volland, Valentyn Ishchuk, D. Dressler, T. Danz, Maik Hauguth, Andy Goodyear, Mike Cooke, Evangelos Gogolides
Publikováno v:
Microelectronic Engineering. 86:976-978
An integrated, extensible, full featured inductively coupled plasma (ICP) reactor simulation environment with a 2D feature scale etch simulator is presented. It incorporates tool scale plasma chemistry and feature scale trench evolution. Flexibility
Publikováno v:
Microelectronic Engineering. 85:982-984
A method for precise neutral flux calculation inside etched features based on a finite element method is presented. This new method yields exact results and is suitable for arbitrary profile shapes at acceptable execution speed. The model parameters
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.