Zobrazeno 1 - 10
of 34
pro vyhledávání: '"T. Buggey"'
Autor:
S. Sembay, A. L. Alme, D. Agnolon, T. Arnold, A. Beardmore, A. Belén Balado Margeli, C. Bicknell, C. Bouldin, G. Branduardi-Raymont, T. Crawford, J. P. Breuer, T. Buggey, G. Butcher, R. Canchal, J. A. Carter, A. Cheney, Y. Collado-Vega, H. Connor, N. Eaton, C. Feldman, C. Forsyth, T. Frantzen, G. Galgóczi, J. Garcia, G. Y. Genov, C. Gordillo, H-P. Gröbelbauer, M. Guedel, Y. Guo, M. Hailey, D. Hall, R. Hampson, J. Hasiba, O. Hetherington, A. Holland, S-Y. Hsieh, M. W. J. Hubbard, H. Jeszenszky, M. Jones, T. Kennedy, K. Koch-Mehrin, S. Kögl, S. Krucker, K. D. Kuntz, C. Lakin, G. Laky, O. Lylund, A. Martindale, J. Miguel Mas Hesse, R. Nakamura, K. Oksavik, N. Østgaard, H. Ottacher, R. Ottensamer, C. Pagani, S. Parsons, P. Patel, J. Pearson, G. Peikert, F. S. Porter, T. Pouliantis, B. H. Qureshi, W. Raab, G. Randall, A. M. Read, N. M. M. Roque, M. E. Rostad, C. Runciman, S. Sachdev, A. Samsonov, M. Soman, D. Sibeck, S. Smit, J. Søndergaard, R. Speight, S. Stavland, M. Steller, TianRan Sun, J. Thornhill, W. Thomas, K. Ullaland, B. Walsh, D. Walton, C. Wang, S. Yang
Publikováno v:
Earth and Planetary Physics, Vol 8, Iss 1, Pp 5-14 (2024)
The Soft X-ray Imager (SXI) is part of the scientific payload of the Solar wind Magnetosphere Ionosphere Link Explorer (SMILE) mission. SMILE is a joint science mission between the European Space Agency (ESA) and the Chinese Academy of Sciences (CAS)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/6b19bd85a1e24e6fbe503471fa9df545
The soft X-ray imager (SXI) on the SMILE mission uses two large 4510x4510 back illuminated CCD370s to detect X-rays in the 0.2-2 keV range. These devices take heritage from the optical imaging PLATO mission CCD270s and have been optimised for low ene
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::13941d6fd14b30bf9e2c86dadab45a6a
http://arxiv.org/abs/2112.02014
http://arxiv.org/abs/2112.02014
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
RADECS 2018
RADECS 2018, Sep 2018, GOTEBORG, Sweden
RADECS 2018, Sep 2018, GOTEBORG, Sweden
International audience; This paper proposes some new experimental data comparing the damage factor of silicon devices with the NIEL after electron, proton and gamma irradiations. The results show that the measured damage factors fit better with the "
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::5c6fca461ff534b7c463aa9605eb7cfd
https://doi.org/10.1109/radecs45761.2018.9328677
https://doi.org/10.1109/radecs45761.2018.9328677
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.