Zobrazeno 1 - 10
of 2 291
pro vyhledávání: '"T, Tawara"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Optics express. 29(17)
Precise spectroscopy of the hyperfine level system of
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid________::231f25f67f650bdbca3c50361255e2f2
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/34615135
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/34615135
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Optics Continuum. 1:1896
We created high-resolution atomic frequency combs (AFCs) and optimized the pulse sequence used in AFC memory to realize highly efficient AFC quantum memory using the 167Er3+:Y2SiO5 hyperfine level system. As a result, the formation and relaxation tim
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::64b810e34dac1a806e117af4615b2cb9
https://doi.org/10.1364/optcon.457429
https://doi.org/10.1364/optcon.457429
Publikováno v:
AIP Advances, Vol 2, Iss 1, Pp 012141-012141-7 (2012)
The erbium silicate formation processes during annealing in Ar gas were monitored by synchrotron radiation grazing incidence X-ray diffraction (GIXD) in real time and the optical properties of the silicates were investigated by photoluminescence meas
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/5a2ff4f62e31441e8d7f574c062f8ec9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Extended Abstracts of the 2019 International Conference on Solid State Devices and Materials.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::683703fd940e17a705b8c0acfdb8fd06
https://doi.org/10.7567/ssdm.2019.b-1-03
https://doi.org/10.7567/ssdm.2019.b-1-03