Zobrazeno 1 - 10
of 661
pro vyhledávání: '"T, Ishikura"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Mitsuru Uesaka, X. Yan, O. Ueda, Hideki Tomita, T. Ishikura, Masashi Ohno, Hiroshi Takahashi, Kenji Shimazoe, Y. Tian, Takeshi Fujiwara, Yuri Yoshihara
Publikováno v:
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment. 830:251-255
A photon counting imaging detector system for high energy X-rays is developed for on-site non-destructive testing of thick objects. One-dimensional silicon strip (1 mm pitch) detectors are stacked to form a two-dimensional edge-on module. Each detect
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::507385677a18e6a997868c720374df8b
https://doi.org/10.1016/j.nima.2016.05.108
https://doi.org/10.1016/j.nima.2016.05.108
Publikováno v:
IEEE Transactions on Power Delivery. 28:1148-1155
In IEC-60060-1 as revised in 2010, a conversion method for lightning impulse voltage test waveforms using the test voltage function (K-factor function) was adopted. Presently, studies are being conducted on the test standards for ultra-high voltage (
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::913175e6c9cd6f9a685ff8be7f6b6b87
https://doi.org/10.1109/tpwrd.2012.2235862
https://doi.org/10.1109/tpwrd.2012.2235862