Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Sysoev Evgeny"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Sysoev Evgeny, Kosolobov Sergey, Kulikov Rodion, Latyshev Alexander, Sitnikov Sergey, Vykhristyuk Ignat
Publikováno v:
Measurement Science Review, Vol 17, Iss 5, Pp 213-218 (2017)
We present an optical interference system nanoprofiler MNP-1 designed for high-precision noncontact measurement of surface relief with subnanometer resolution (root mean square of measured values), based on partial scanning of interference signal. Th
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/eb16457b055b4008a5d114ef392f399b
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Sysoev, Evgeny V., Chugui, Yuri V., Kulikov, Rodion V., Vykhristyuk, Ignat A., Chen, Liang Chia, Hai, Hoang Hong, Fan, Kuang Chao
Publikováno v:
Applied Mechanics and Materials; September 2017, Vol. 870 Issue: 1 p34-40, 7p
Publikováno v:
Applied Mechanics and Materials; September 2017, Vol. 870 Issue: 1 p120-125, 6p
Autor:
Chugui, Yuri V., Verkhogliad, Alexander G., Makarov, Sergei N., Sysoev, Evgeny V., Finogenov, Leonid V., Zav'yalov, Peter S., Lemeshko, Yuri A.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2008 Part 2, Issue 1, p70081L-70081L-15, 15p
Autor:
Sysoev, Evgeny V.
Publikováno v:
Key Engineering Materials; May 2010, Vol. 437 Issue: 1 p51-55, 5p
Autor:
Sysoev, Evgeny V., Kulikov, Rodion V.
Publikováno v:
Key Engineering Materials; May 2010, Vol. 437 Issue: 1 p35-39, 5p