Výsledky vyhledávání - "Sunke Venkataiah"

Oxygen partial pressure influenced stoichiometry, structural, electrical, and optical properties of DC reactive sputtered hafnium oxide films

Autor: Sunke Venkataiah, S. Uthanna, Ch. V. V. Ramana, U. Chalapathi, S. V. Jagadeesh Chandra

Publikováno v: Surface and Interface Analysis. 53:206-214

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f7944f20d355dab683c153c35e7c6f42
https://doi.org/10.1002/sia.6902

Zobrazit plný text záznamu