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pro vyhledávání: '"Sungauer, Elodie"'
Autor:
Sungauer, Elodie
La miniaturisation des dispositifs CMOS impose d'introduire de nouveaux matériaux dans l'empilement de grille des transistors. Ainsi, l'empilement classique poly-silicium/SiO2 est remplacé par un empilement poly- silicium/métal/matériau à haute
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http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00370202
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/37/02/02/PDF/These_Elodie_Sungauer.pdf
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/37/02/02/PDF/These_Elodie_Sungauer.pdf
Autor:
Liddle, J. Alexander, Ruiz, Ricardo, Palanchoke, Ujwol, Bélot, Gaby, Bérard-Bergery, Sébastien, Saugnier, Juline, Sungauer, Elodie, Beylier, Charlotte, Tomaso, Florian, Pourteau, Marie-Line, Mendes, Ivanie, Coquand, Rémi, Bernadac, Arthur
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; May 2023, Vol. 12497 Issue: 1 p124970N-124970N-17, 12372048p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; April 2023, Vol. 12495 Issue: 1 p124951H-124951H-7, 1124567p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; November 2022, Vol. 12472 Issue: 1 p124720T-124720T-8, 1122489p
Akademický článek
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Autor:
Valade, Charles, Hazart, Jérôme, Bérard-Bergery, Sébastien, Sungauer, Elodie, Besacier, Maxime, Gourgon, Cécile
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 1/22/2019, Vol. 10959, p1-18, 18p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 4/8/2023, Vol. 12495, p124951H-124951H-7, 1p
Autor:
Palanchoke, Ujwol, Bélot, Gaby, Bérard-Bergery, Sébastien, Saugnier, Juline, Sungauer, Elodie, Beylier, Charlotte, Tomaso, Florian, Pourteau, Marie-Line, Mendes, Ivanie, Coquand, Rémi, Bernadac, Arthur
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 4/10/2023, Vol. 12497, p124970N-124970N-17, 1p
Autor:
Ukraintsev, Vladimir A., Adan, Ofer, Valade, Charles, Hazart, Jérôme, Bérard-Bergery, Sébastien, Sungauer, Elodie, Besacier, Maxime, Gourgon, Cécile
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; May 2019, Vol. 10959 Issue: 1 p109590Y-109590Y-18, 10849429p
Autor:
Lai, Kafai, Erdmann, Andreas, Le-Denmat, Jean-Christophe, Michel, Jean-Christophe, Sungauer, Elodie, Yesilada, Emek, Robert, Frederic, Lan, Song, Feng, Mu, Wang, Lei, Depre, Laurent, Kapasi, Sanjay
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; April 2014, Vol. 9052 Issue: 1 p90520D-90520D-9, 814690p