Zobrazeno 1 - 10
of 17
pro vyhledávání: '"Subido, W."'
Autor:
Hotchkiss, G., Aronoff, J., Broz, J., Hartfield, C., James, R., Stark, L., Subido, W., Sundararaman, V., Test, H.
Publikováno v:
2002 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings 40th Annual (Cat. No.02CH37320); 2002, p140-143, 4p
Autor:
Hotchkiss, G., Ryan, G., Subido, W., Broz, J., Mitchell, S., Rincon, R., Rolda, R., Guimbaolibot, L.
Publikováno v:
2001 Proceedings 51st Electronic Components & Technology Conference (Cat. No.01CH37220); 2001, p1175-1180, 6p
Autor:
Chiu, Jing-Er1 (AUTHOR), Wang, Chau-Shing2 (AUTHOR) cswang@cc.ncue.edu.tw, Lu, Shih-Wen2 (AUTHOR)
Publikováno v:
International Journal of Advanced Manufacturing Technology. Nov2022, Vol. 123 Issue 5/6, p2719-2731. 13p. 2 Color Photographs, 1 Black and White Photograph, 1 Illustration, 5 Diagrams, 18 Charts, 3 Graphs.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wang, Chau-Shing1 (AUTHOR) cswang@cc.ncue.edu.tw, Chang, Wen-Liang1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Journal of the Chinese Institute of Industrial Engineers. Jun2012, Vol. 29 Issue 4, p237-245. 9p.
Autor:
Sethu, R. S.1 rajzmail@yahoo.com
Publikováno v:
Australian Journal of Mechanical Engineering. Jun2012, Vol. 9 Issue 2, p147-159. 13p. 19 Diagrams, 2 Charts, 1 Graph.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Soldering & Surface Mount Technology; 2015, Vol. 27 Issue 4, p129-136, 8p
Publikováno v:
Experimental Techniques; Sep/Oct2006, Vol. 30 Issue 5, p23-27, 5p, 4 Black and White Photographs, 3 Diagrams, 5 Graphs
This proceedings volume presents in-depth coverage of the latest developments and the most advanced techniques for microelectronics failure analysis. The CD-ROM provides the complete content of the book in searchable Adobe Acrobat® PDF format.
