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Autor:
Van de Casteele, J., Stuhldreier, H., Bouw, D., Gourdon, C., Raoult, M., Durand, E., Van Den Berghe, S., Hollmer, M., Grunwald, M., Lambert, B., Blanck, H., Barnes, A.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2020 114
Autor:
Barnes, A., Heliere, F., Villar, P., Stuhldreier, H., Beaurain, C., Bouw, D., Grunwald, M., Moess, E., Muck, T., Schildbach, C., Ayles, T., Kramer, A., Bildner, B.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:378-384