Zobrazeno 1 - 10
of 302
pro vyhledávání: '"Studer, V."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
De Chiara, V., Motta, C., Rossi, S., Studer, V., Barbieri, F., Lauro, D., Bernardi, G., Centonze, D.
Publikováno v:
In Neuroscience 10 October 2013 250:232-239
Publikováno v:
Urban ecosystems (Dordr., Online) (2022). doi:10.1007/s11252-022-01224-9
info:cnr-pdr/source/autori:Ciprari E, Ancillotto L, Mori E, Studer V, Chessa C/titolo:Rescue data as an alternative for assessing trends and phenological changes in two invasive parakeet species/doi:10.1007%2Fs11252-022-01224-9/rivista:Urban ecosystems (Dordr., Online)/anno:2022/pagina_da:/pagina_a:/intervallo_pagine:/volume
info:cnr-pdr/source/autori:Ciprari E, Ancillotto L, Mori E, Studer V, Chessa C/titolo:Rescue data as an alternative for assessing trends and phenological changes in two invasive parakeet species/doi:10.1007%2Fs11252-022-01224-9/rivista:Urban ecosystems (Dordr., Online)/anno:2022/pagina_da:/pagina_a:/intervallo_pagine:/volume
Monitoring population trends of alien species is pivotal to design effective management plans to preserve native biodiversity, particularly urban areas, where most populations of alien birds are established. Urban wildlife rescue centers, with person
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=cnr_________::3d41257b8901c66cc7ffa62639353903
https://publications.cnr.it/doc/465182
https://publications.cnr.it/doc/465182
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2005 78:112-117
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2004 73:876-880
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2004 73:852-857
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2004 73:233-237
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 61:915-920
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 61:927-932
Autor:
Lebib, A., Chen, Y. ∗, Cambril, E., Youinou, P., Studer, V., Natali, M., Pépin, A., Janssen, H.M., Sijbesma, R.P.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 61:371-377