Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Strus, Mark C."'
Publikováno v:
In Composites Science and Technology 2009 69(10):1580-1586
Publikováno v:
Other Nanotechnology Publications
Dynamic atomic force microscopy (dynamic AFM) with carbon nanotube tips has been suggested as an enabling tool for high precision nanometrology of critical dimension features of semiconductor surfaces. We investigate the performance of oscillating AF
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______540::1f7d125951bf213568918211afc70e9e
http://docs.lib.purdue.edu/cgi/viewcontent.cgi?article=1049&context=nanodocs
http://docs.lib.purdue.edu/cgi/viewcontent.cgi?article=1049&context=nanodocs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2011 11th IEEE International Conference on Nanotechnology; 1/ 1/2011, p715-719, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Strus, Mark C.1, Cano, Camilo I.2, Byron Pipes, R.2,3,4, Nguyen, Cattien V.5, Raman, Arvind1 raman@purdue.edu
Publikováno v:
Composites Science & Technology. May2011, Vol. 71 Issue 8, p1180-1180. 1p.