Výsledky vyhledávání - "Strojwas, Andrzej J."

Knihovna AV ČR, v. v. i.

Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
- English
- Čeština
Instituce

Pokročilé vyhledávání

Zahrnout EIZ

Zachovat současné nastavení filtrů

EXPAND:"fulltext"

Domovská stránka
Vyhledávání: "Strojwas, Andrzej J."
Navrhnout nákup titulu

Zobrazeno 1 - 10 of 174 pro vyhledávání: '"Strojwas, Andrzej J."'

Řazení

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

Vybrat výsledek číslo 1 1

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 2 2

Akademický článek

Yield grows by X.

Autor: Strojwas, Andrzej J.¹, Thurnaty, Kalyan², Arora, Narain³

Publikováno v: Electronics Systems & Software. Jun/Jul2005, Vol. 3 Issue 3, p26-29. 4p. 1 Color Photograph, 3 Diagrams, 1 Chart, 1 Graph.

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 3 3

Conference

Design for inspection methodology for fast in-line eBeam defect detection.

Autor: Strojwas, Andrzej J., Brozek, Tomasz, Ciplickas, Dennis, De, Indranil

Publikováno v: Proceedings of SPIE; 4/8/2023, Vol. 12495, p1249517-1249517, 1p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 4 4

Periodical

Design for inspection methodology for fast in-line eBeam defect detection

Autor: Kim, Ryoung-Han, Lafferty, Neal V., Strojwas, Andrzej J., Brozek, Tomasz, Ciplickas, Dennis, De, Indranil

Publikováno v: Proceedings of SPIE; April 2023, Vol. 12495 Issue: 1 p1249517-1249517-11

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 5 5

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 6 6

Akademický článek

Path Delay Fault Diagnosis and Coverage--A Metric and an Estimation Technique.

Autor: Sivaraman, Mukund, Strojwas, Andrzej J.

Publikováno v: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems. Mar2001, Vol. 20 Issue 3, p440. 18p. 18 Diagrams, 5 Charts.

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 7 7

Akademický článek

Perspectives on Technology and Technology-Driven CAD.

Autor: Dutton, Robert W., Strojwas, Andrzej J.

Publikováno v: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems. Dec2000, Vol. 19 Issue 12, p1544. 17p. 1 Black and White Photograph, 14 Diagrams, 2 Graphs.

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 8 8

Akademický článek

Primitive Path Delay Faults: Identification and Their Use in Timing Analysis.

Autor: Sivaraman, Mukund, Strojwas, Andrzej J.

Publikováno v: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems. Nov2000, Vol. 19 Issue 11, p1347. 16p. 2 Black and White Photographs, 10 Diagrams, 2 Charts.

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 9 9

Conference

Efficient metrology for edge placement error (EPE) characterization using design for inspection methodology.

Autor: Strojwas, Andrzej J., Ciplickas, Dennis, De, Indranil, Brozek, Tomasz

Publikováno v: Proceedings of SPIE; 1/20/2022, Vol. 12053, p1205325-1205325, 1p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 10 10

Conference

Maximization of layout printability/manufacturability by extreme layout regularity.

Autor: Jhaveri, Tejas, Pileggi, Larry, Rovner, Vyacheslav, Strojwas, Andrzej J.

Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov2006, Issue 1, p615609-615609-15, 15p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
Další »
[18]

Vyhledávací nástroje:

RSS
Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání

Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR

Zdroje

Pouze tištěné dokumenty

Zahrnout EIZ

111 Konferenční materiály
46 Akademické články
8 Časopisy
6 Knihy
4 Electronic Resources
2 Elektronické knihy

15 integrated circuits
10 semiconductors
8 lithography
6 delay faults (semiconductors)
6 integrated circuit design
6 integrated circuit interconnections
6 very large scale circuit integration
5 design for manufacturability
5 methodology
5 testing
4 application-specific integrated circuits
4 design automation
4 electric conductivity
4 electronic books
3 algorithms
3 complementary metal oxide semiconductors
3 complementary metal-oxide-semiconductor (cmos) integrated circuits
3 computer-aided design
3 electronic circuit design
3 frequency standards
3 holes
3 lighting
3 lighting wiring
3 mathematical optimization
3 metrology
3 nanotechnology
3 path analysis (statistics)
3 polarization (electricity)
3 recursive sequences (mathematics)
3 simulation.
3 technological innovations
3 technology
3 wafer-scale integration of circuits
2 90699 electrical and electronic engineering not elsewhere classified
2 computer engineering
2 design
2 fos: electrical engineering, electronic engineering, information engineering
2 yield-line analysis
1 arithmetic and logic structures
1 bricks
1 computer science
1 computer-aided engineering (cad, cae) and design
1 digital integrated circuits-testing.
1 edge placement error
1 electronic and computer engineering
1 electronic circuits
1 industrial design
1 integrated circuits-verification
1 integrated circuits-very large scale integration-computer-aided design
1 integrated circuits--very large scale integration--computer-aided design

68 ieee
25 association for computing machinery
25 spie - international society of optical engineering
15 publ by ieee
4 extension media
4 springer
3 institution of engineering & technology
3 society of photo-optical instrumentation engineers
2 carnegie mellon university
2 ieee comp soc
2 spie-soc photo-optical instrumentation engineers
1 canon communications inc
1 elsevier ltd
1 ieee-inst electrical electronics engineers inc
1 publ by electrochemical soc inc
1 publ by int soc for optical engineering
1 reed business information
1 springer nature
1 wiley-blackwell

29 proceedings of spie
15 ieee transactions on computer-aided design of integrated circuits & systems
12 ieee transactions on semiconductor manufacturing
9 dac: annual acm/ieee design automation conference
5 ieee/semi advanced semiconductor manufacturing conference and workshop
5 proceedings - design automation conference
5 proceedings of spie - the international society for optical engineering
4 ieee transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
4 proceedings of the custom integrated circuits conference
4 solid state technology
3 electronics systems & software
3 ieee transactions on circuits & systems part i: fundamental theory & applications
3 ieee/acm international conference on computer-aided design, digest of technical papers
3 proceedings - ieee international symposium on circuits and systems
2 ieee design & test of computers
2 international workshop on statistical metrology, proceedings, iwsm
2 journal of the optical society of america a: optics, image science & vision
2 microelectronics journal
2 proceedings of the 1996 ieee acm international conference computer-aided design
2 proceedings of the 28th acm ieee design automation conference
2 proceedings of the 28th acm/ieee design automation conference
2 proceedings of the 36th annual acm/ieee design automation conference
2 proceedings of the european design and test conference
2 proceedings of the ieee international conference on vlsi design
2 technical digest - international electron devices meeting
1 2013 international symposium on vlsi technology, systems & application (vlsi-tsa)
1 2016 ieee 34th vlsi test symposium (vts)
1 digest of papers - international test conference
1 encyclopedia of electrical & electronics engineering
1 ieee international symposium on semiconductor manufacturing conference, proceedings
1 ieee international test conference (tc)
1 ieee/acm international conference on computer-aided design
1 ieee/chmt european international electronic manufacturing technology symposium
1 integrated circuit & system design
1 journal of micro-nanolithography mems and moems
1 journal of micro-nanopatterning materials and metrology-jm3
1 microcontamination
1 midwest symposium on circuits and systems
1 proceedings - the electrochemical society
1 proceedings 42nd design automation conference, 2005
1 proceedings of the 13th acm great lakes symposium: vlsi
1 proceedings of the 1992 ieee/acm international conference: computer-aided design
1 proceedings of the 1996 ieee/acm international conference: computer-aided design
1 proceedings of the 1997 ieee acm international conference computer-aided design
1 proceedings of the 1997 ieee/acm international conference: computer-aided design
1 proceedings of the 2000 asia & south pacific design automation conference
1 proceedings of the 2002 international symposium: physical design
1 proceedings of the 22nd acm ieee design automation conference
1 proceedings of the ieee vlsi test symposium
1 semiconductor international

74 Complementary Index
54 Scopus®
13 Business Source Ultimate
13 Academic Search Ultimate
10 Supplemental Index
4 Vybrané kolekce e-knih
3 Science Citation Index Expanded
2 OpenAIRE
1 ScienceDirect

Od:

do:

Možnosti vyhledávání

Tematická mapa
Historie vyhledávání
Pokročilé vyhledávání

Objevte více

Abecední procházení

Hledáte pomoc?

Tipy pro vyhledávání

načítá se......