Zobrazeno 1 - 10 of 17 pro vyhledávání: '"Strausser, Y. E."'
1
Akademický článek
An Auger analysis of the SiO2-Si interface.
Autor: Johannessen, J. S., Spicer, W. E., Strausser, Y. E.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; Jul1976, Vol. 47 Issue 7, p3028-3037, 10p
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Analysis of the growth processes of plasma-enhanced chemical vapor deposited diamond films from CO/H2 and CH4/H2 mixtures using real-time spectroellipsometry.
Autor: Lee, Joungchel, Collins, R. W., Hong, Byungyou, Messier, R., Strausser, Y. E.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films; 1997, Vol. 15 Issue 4, p1929-1936, 8p
Zobrazit plný text záznamu
3
Periodical
Step structure during organometallic vapor phase epitaxial growth of ordered GaInP
Autor: Stringfellow, G. B., Su, L. C., Strausser, Y. E., Thornton, J. T.
Publikováno v: Journal of Electronic Materials; November 1995, Vol. 24 Issue: 11 p1591-1595, 5p
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Detection of monolayer quantities of oxygen on silicon using energy-dispersive x-ray spectrometry.
Autor: Musket, R. G., Strausser, Y. E.
Publikováno v: Applied Physics Letters; 1980, Vol. 37 Issue 5, p478-480, 3p
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Observation of an intermediate chemical state of silicon in the Si/SiO2 interface by Auger sputter profiling.
Autor: Helms, C. R., Strausser, Y. E., Spicer, W. E.
Publikováno v: Applied Physics Letters; Oct1978, Vol. 33 Issue 8, p767-769, 3p
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Phase separation in silicon oxides as seen by Auger electron spectroscopy.
Autor: Johannessen, J. S., Spicer, W. E., Strausser, Y. E.
Publikováno v: Applied Physics Letters; Oct1975, Vol. 27 Issue 8, p452-454, 3p
Zobrazit plný text záznamu
9
Periodical
Observation of an intermediate chemical state of silicon in the Si/SiO2interface by Auger sputter profiling
Autor: Helms, C. R., Strausser, Y. E., Spicer, W. E.
Publikováno v: Applied Physics Letters; October 1978, Vol. 33 Issue: 8 p767-769, 3p
Zobrazit plný text záznamu
10
Conference
Metal Surface Morphology Characterization Using Laser Scatterometry.
Autor: Gaspar, S. M., Hickman, K. C., McNeil, J. R., Jacobson, R. D., Lindauer, G. P., Strausser, Y. E., Krosche, E. R.
Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; 01/02/1990, Vol. 181, pN.PAG-1, 1p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje