Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"Strach, Thomas"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bertran, Ramon, Buyuktosunoglu, Alper, Bose, Pradip, Slegel, Timothy J., Salem, Gerard, Carey, Sean, Rizzolo, Richard F., Strach, Thomas
Publikováno v:
2014 47th Annual IEEE/ACM International Symposium on Microarchitecture; 2014, p368-380, 13p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Winkel, Thomas-Michael, Harrer, Hubert, Strach, Thomas, Rimolo-Donadio, Renato, Kwark, Young, Duan, Xiaomin, Schuster, Christian
Publikováno v:
2012 IEEE 21st Conference on Electrical Performance of Electronic Packaging & Systems; 1/ 1/2012, p21-24, 4p
Autor:
Warnock, James, Chan, Yuen, Harrer, Hubert, Carey, Sean, Salem, Gerard, Malone, Doug, Puri, Ruchir, Zitz, Jeffrey A., Jatkowski, Adam, Strevig, Gerald, Datta, Ayan, Gattiker, Anne, Bansal, Aditya, Mayer, Guenter, Chan, Yiu-Hing, Mayo, Mark, Rude, David L., Sigal, Leon, Strach, Thomas, Smith, Howard H.
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; Jan2014, Vol. 49 Issue 1, p9-18, 10p
Autor:
Warnock, James, Chan, Yuen H, Harrer, Hubert, Rude, David, Puri, Ruchir, Carey, Sean, Salem, Gerard, Mayer, Guenter, Chan, Yiu-Hing, Mayo, Mark, Jatkowski, Adam, Strevig, Gerald, Sigal, Leon, Datta, Ayan, Gattiker, Anne, Bansal, Aditya, Malone, Douglas, Strach, Thomas, Wen, Huajun, Mak, Pak-Kin
Publikováno v:
2013 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers; 2013, p46-47, 2p