Zobrazeno 1 - 10
of 26
pro vyhledávání: '"Stoimenos, J."'
Publikováno v:
In Superlattices and Microstructures 2007 42(1):158-164
Metal-insulator-semiconductor-insulator-semiconductor (MISIS) capacitors, fabricated using direct wafer bonding, have been used for the evaluation of the electrical properties of a silicon film (4.1 μim), a buried oxide (42 nm) and its interfaces. A
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2127::71a6b33bfeaeac7349e369d4b431d1a3
https://pergamos.lib.uoa.gr/uoa/dl/object/uoadl:3013378
https://pergamos.lib.uoa.gr/uoa/dl/object/uoadl:3013378
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Uusimaa, Petteri, Salokatve, Arto K., Savolainen, Pekka, Rinta-Moykky, A., Pessa, Markus, Souifi, A., Adhiri, R., Kiriakidis, George, Moschovis, K., Stoimenos, J.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov1998, Issue 1, p39-50, 12p
Autor:
El Shaer, A., Bakin, A., Che Mofor, A., Bläsing, J., Krost, A., Stoimenos, J., Pécz, B., Kreye, M., Waag, A.
Publikováno v:
Applied Physics A: Materials Science & Processing; Jul2007, Vol. 88 Issue 1, p57-60, 4p, 2 Diagrams, 4 Graphs
Autor:
El-Shaer, A., Bakin, A., Mofor, A. C., Bläsing, J., Krost, A., Stoimenos, J., Pécz, B., Kreye, M., Heuken, M., Waag, A.
Publikováno v:
Physica Status Solidi (B); Mar2006, Vol. 243 Issue 4, p768-772, 5p
Publikováno v:
Physica Status Solidi (B); 1967, Vol. 20 Issue 2, p623-628, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.