Zobrazeno 1 - 10
of 26
pro vyhledávání: '"Stempien, John D."'
Autor:
Chuirazzi, William C., Kane, Joshua J., Cordes, Nikolaus L., Stempien, John D., Kancharla, Rahul R., Xu, Fei
Publikováno v:
In Tomography of Materials and Structures June 2023 2
Thesis: Ph. D., Massachusetts Institute of Technology, Department of Nuclear Science and Engineering, 2015.
Cataloged from PDF version of thesis.
Includes bibliographical references (pages 294-305).
The Fluoride Salt-Cooled High-Temper
Cataloged from PDF version of thesis.
Includes bibliographical references (pages 294-305).
The Fluoride Salt-Cooled High-Temper
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/1721.1/103727
Autor:
Kane, Joshua J., Marshall, Douglas W., Cordes, Nikolaus L., Chuirazzi, William C., Kombaiah, Boopathy, van Rooyen, Isabella, Stempien, John D.
Publikováno v:
In Journal of Nuclear Materials July 2022 565
Thesis (S.M.)--Massachusetts Institute of Technology, Dept. of Nuclear Science and Engineering, 2011.
Cataloged from PDF version of thesis.
Includes bibliographical references (p. 101-107).
A silicon carbide (SiC) fuel cladding for LWR
Cataloged from PDF version of thesis.
Includes bibliographical references (p. 101-107).
A silicon carbide (SiC) fuel cladding for LWR
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/1721.1/76948
Autor:
Morankar, Swapnil, Chuirazzi, William C, Kancharla, Rahul R, Gross, Brian J, Stempien, John D
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; 2024 Supplement, Vol. 30, p1-4, 4p
Autor:
Hunn, John D., Baldwin, Charles A., Montgomery, Fred C., Gerczak, Tyler J., Morris, Robert N., Helmreich, Grant W., Demkowicz, Paul A., Harp, Jason M., Stempien, John D.
Publikováno v:
In Nuclear Engineering and Design 1 April 2018 329:89-101
Publikováno v:
In Nuclear Engineering and Design 1 April 2018 329:134-141
Publikováno v:
In Nuclear Engineering and Design 15 December 2016 310:258-272
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Cordes, Nikolaus L., Gross, Brian J., Chuirazzi, William C., Kane, Joshua J., Stempien, John D.
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; 2022 Supplement, Vol. 28, p2038-2039, 2p