Zobrazeno 1 - 10
of 33
pro vyhledávání: '"Steen, S.E."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-October 2000 40(8-10):1353-1358
Publikováno v:
2010 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS); 2010, p508-515, 8p
Autor:
Topol, A.W., La Tulipe, D.C., Shi, L., Alam, S.M., Frank, D.J., Steen, S.E., Vichiconti, J., Posillico, D., Cobb, M., Medd, S., Patel, J., Goma, S., DiMilia, D., Robson, M.T., Duch, E., Farinelli, M., Wang, C., Conti, R.A., Canaperi, D.M., Deligianni, L.
Publikováno v:
IEEE International Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest; 2005, p352-355, 4p
Autor:
Fried, D.M., Hergenrother, J.M., Topol, A.W., Chang, L., Sekaric, L., Sleight, J.W., McNab, S.J., Newbury, J., Steen, S.E., Gibson, G., Zhang, Y., Fuller, N.C.M., Bucchignano, J., Lavoie, C., Cabral Jr, C., Canaperi, D., Dokumaci, O., Frank, D.J., Duch, E.A., Babich, I.
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p261-264, 4p
Autor:
Huiling Shang, Okorn-Schmidt, H., Chan, K.K., Copel, M., Ott, J.A., Kozlowski, P.M., Steen, S.E., Cordes, S.A., Wong, H.-S.P., Jones, E.C., Haensch, W.E.
Publikováno v:
Digest. International Electron Devices Meeting; 2002, p441-444, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Koester, S.J., Saenger, K.L., Chu, J.O., Ouyang, Q.C., Ott, J.A., Jenkins, K.A., Canaperi, D.F., Tornello, J.A., Jahnes, C.V., Steen, S.E.
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; Mar2005, Vol. 26 Issue 3, p178-180, 3p, 1 Diagram, 5 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
La Tulipe, D.C., Frnak, D.J., Steen, S.E., Topol, A.W., Patel, J., Ramakrishnan, L., Sleight, J.W.
Publikováno v:
2008 IEEE International SOI Conference; 2008, p23-24, 2p
Autor:
Yang, M., Chan, V., Ku, S.H., Ieong, M., Shi, L., Chan, K.K., Murthy, C.S., Mo, R.T., Yang, H.S., Lehner, E.A., Surpris, Y., Jamin, F.F., Oldiges, P., Zhang, Y., To, B.N., Holt, J.R., Steen, S.E., Chudzik, M.P., Fried, D.M., Bernstein, K.
Publikováno v:
2004 Digest of Technical Papers. 2004 Symposium on VLSI Technology; 2004, p160-161, 2p