Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Standard curve fitting"'
Autor:
Zhenhua Gan, Dongyu He, Peishu Wu, Baoping Xiong, Nianyin Zeng, Fumin Zou, Feng Guo, Qin Bao, Fengyan Zhao
Publikováno v:
IEEE Photonics Journal, Vol 16, Iss 4, Pp 1-11 (2024)
The Charge Coupled Device (CCD) scanner determines the concentration of the microarray by capturing the intensity of the fluorescent signal on the microarray in combination with the standard curve. Due to the characteristics of semiconductors, the CC
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/25b3a76c08d2407f9a790cb9117b7ffd
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.