Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Stack, T. L."'
Autor:
Basso, M. J., Fernandez-Tejero, J., Gallop, B. J., Greig, G., John, J. J., Keener, P. T., Krizka, K., Leitao, P. V., Norman, B., Phillips, P. W., Poley, L., Sawyer, C., Stack, T. L., Stucci, S., Trischuk, D. A., Warren, M.
Publikováno v:
JINST 17 P03017 (2022)
Single Event Effects (SEEs) - predominately bit-flips in electronics caused by particle interactions - are a major concern for ASICs operated in high radiation environments such as ABCStar ASICs, which are designed to be used in the future ATLAS ITk
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2203.12641
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.