Zobrazeno 1 - 10
of 51
pro vyhledávání: '"Srinivasamurthy, S."'
Publikováno v:
Journal of Pathology of Nepal, Vol 13, Iss 2, Pp 2071-2079 (2023)
Background: Cases diagnosed as Microcytic Hypochromic Anaemia in paediatric age group will be subjected to basic hematological indices and further confirmed in cases of high suspicion through Hemoglobin Electrophoresis and High-Performance Liquid Chr
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/b9fbf19d7489469ba503469035611395
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IndraStra Global.
Galvanostatic, cyclic voltammetric and linear polarization characteristics of LaNi5 electrode with respect to cycling are presented. Variation in voltammetric charge-Discharge current and potential values observed during cycling are discussed. Cyclic
Autor:
Xiaowu Zhang, Lee, C., Wong Ee Hua, Iyer, M.K., Teo Poi Siong, Pinjala, D., Srinivasamurthy, S.
Publikováno v:
Proceedings of the 2001 8th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2001 (Cat. No.01TH8548); 2001, p67-72, 6p