Zobrazeno 1 - 10
of 272
pro vyhledávání: '"Squier, Jeff A."'
Imaging beyond the diffraction limit barrier has attracted wide attention due to the ability to resolve image features that were previously hidden. Of the various super-resolution microscopy techniques available, a particularly simple method called s
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2305.17348
Publikováno v:
In Signal Processing July 2024 220
Autor:
Barolak, Jonathan, Goldberger, David, Squier, Jeff, Bellouard, Yves, Durfee, Charles, Adams, Daniel
Diagnostics capable of interrogating dynamics in harsh environments such as plasma have remained essentially unchanged in recent decades. Developments in advanced microscopy techniques will improve our understanding of the physics involved in these e
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2009.01337
Optical diffraction tomography is an indispensable tool for studying objects in three-dimensions due to its ability to accurately reconstruct scattering objects. Until now this technique has been limited to coherent light because spatial phase inform
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2008.02376
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Stockton, Patrick, Murray, Gabe, Field, Jeffrey J., Squier, Jeff, Pezeshki, Ali, Bartels, Randy A.
Publikováno v:
In Optics Communications 1 October 2022 520
Autor:
Barolak, Jonathan, Goldberger, David, Squier, Jeff, Bellouard, Yves, Durfee, Charles, Adams, Daniel
Publikováno v:
In Ultramicroscopy March 2022 233
Publikováno v:
In Fuel 1 January 2021 283
Autor:
Field, Jeffrey J., Wernsing, Keith W., Domingue, Scott R., Motz, Alyssa M. Allende, DeLuca, Keith F., DeLuca, Jennifer G., Kuciauskas, Darius, Levi, Dean H., Squier, Jeff A., Bartels, Randy A.
Super-resolved far-field microscopy has emerged as a powerful tool for investigating the structure of objects with resolution well below the diffraction limit of light. Nearly all super-resolution imaging techniques reported to date rely on real ener
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1508.03541