The proton and deuteron F_2 structure function at low Q^2

Autor: Tvaskis, V., Arrington, J., Asaturyan, R., Baker, O. K., Blok, H. P., Bosted, P., Boswell, M., Bruell, A., Christy, M. E., Cochran, A., Ent, R., Filippone, B. W., Gasparian, A., Keppel, C. E., Kinney, E., Lapikás, L., Lorenzon, W., Mack, D. J., Mammei, J., Martin, J. W., Mkrtchyan, H., Niculescu, I., Piercey, R. B., Potterveld, D. H., Smith, G., Spurlock, K., van der Steenhoven, G., Stepanyan, S., Tadevosian, V., Wood, S. A.

Publikováno v: Phys.Rev.C81:055207,2010

Measurements of the proton and deuteron $F_2$ structure functions are presented. The data, taken at Jefferson Lab Hall C, span the four-momentum transfer range $0.06 < Q^2 < 2.8$ GeV$^2$, and Bjorken $x$ values from 0.009 to 0.45, thus extending the

Externí odkaz: http://arxiv.org/abs/1002.1669

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Benchmarking 193 nm photoresists for etch resistance.

Autor: Bakshi, V., Smith, G., Alzaben, T., Beach, J., Spurlock, K., Berger, R., Dorris, S.-T.L., Pearson, S., Holladay, D., Woehl, J.

Publikováno v: 2001 IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing. ISSM 2001. Conference Proceedings (Cat. No.01CH37203); 2001, p215-218, 4p

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.