Zobrazeno 1 - 10 of 450 pro vyhledávání: '"Sproule, G"'
1
Akademický článek
Electron energy loss spectroscopy of interfacial layer formation in Gd[sub 2]O[sub 3] films deposited directly on Si(001).
Autor: Botton, G. A., Gupta, J. A., Landheer, D., McCaffrey, J. P., Sproule, G. I., Graham, M. J.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 3/1/2002, Vol. 91 Issue 5, p2921, 8p, 1 Black and White Photograph, 1 Diagram, 8 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Thin anodic oxides formed on GaAs in aqueous solutions.
Autor: Schmuki, P., Sproule, G. I., Bardwell, J. A., Lu, Z. H., Graham, M. J.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 5/1/1996, Vol. 79 Issue 9, p7303, 9p, 10 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Positron beam study of annealed silicon nitride films.
Autor: Landheer, D., Aers, G. C., Sproule, G. I., Lawther, D. W., Simpson, P. J., Massoumi, G. R., Tong, S. Y.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 3/1/1996, Vol. 79 Issue 5, p2458, 5p, 2 Charts, 4 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Positron study of plasma-enhanced chemical vapor deposited silicon nitride films.
Autor: Landheer, D., Aers, G. C., Sproule, G. I., Khatri, R., Simpson, P. J., Gujrathi, S. C.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 8/15/1995, Vol. 78 Issue 4, p2568, 7p, 2 Diagrams, 2 Charts, 2 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Structure damage in reactive-ion and laser etched InP/GalnAs microstructures.
Autor: Dubowski, J. J., Rosenquist, B. E., Lockwood, D. J., Labbé, H. J., Roth, A. P., Lacelle, C., Davies, M., Barber, R., Mason, B., Sproule, G. I.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 8/1/1995, Vol. 78 Issue 3, p1488, 4p, 1 Chart, 3 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Effect of power on interface and electrical properties of SiO2 films produced by plasma-enhanced chemical-vapor deposition.
Autor: Landheer, D., Xu, D.-X., Tao, Y., Sproule, G. I.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 2/15/1995, Vol. 77 Issue 4, p1600, 7p, 9 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Research on the Mechanism of Oxygen-Induced Embrittlement Fracturing in Industrial Electrolytic Nickel.
Autor: Zhang, Han1,2 (AUTHOR) 18793138809@163.com, Sang, Chen1,2 (AUTHOR) 19193103682@163.com, Miao, Chengpeng3 (AUTHOR) cp.m0628@163.com, Xu, Yangtao1,2 (AUTHOR) lanzhouxuyt@163.com, Qiao, Jisen1,2 (AUTHOR) qiaojisen@lut.edu.cn, Xia, Tiandong1,2 (AUTHOR) qiaojisen@lut.edu.cn
Publikováno v: Materials (1996-1944). Sep2024, Vol. 17 Issue 17, p4428. 19p.
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje